摩尔精英联合蔚思博推出一站式ESD静电测试解决方案

HBM、MM、CDM三种测试之放电时间与电流比较图：人体静电模式(2 KV)，机器静电模式(200V)， 与组件充电模式(1 KV)放电电流的比较图。

Latch-up闩锁测试：闩锁测试主要参考JEDEC 78规范以及AEC-Q100-004之定义，其中在车用电子的测试中，定义必须使用Class II，即最高环境温度条件 (Maximum Operation Temperature)，较传统常温更为严格。

TLP传输线脉冲测试：传输线脉冲(TLP，Transmission Line Pulse)测试，属于半导体产品静电放电的先期模拟方法。TLP透过每次使用一个脉冲条件，已获得一个I-V点的方式，持续的施加下，直到漏电(leakage)超过规格值为止。

摩尔精英测试服务依托平均超30年经验的测试设备研发与应用开发团队，与基于经百亿颗芯片量产验证的自主ATE机台，摩尔精英为客户提供的全流程测试方案服务，包含测试方案开发、硬件设计制作、ATE程序开发与量产测试服务，为客户提供高性价比、高品质、极具弹性产能的芯片测试服务。